Descripción
FT3470-51 HIOKI
- Cumple con las pautas ICNIRP 2010, así como con otros estándares relevantes para las pruebas de evaluación.
- Cumple con IEC 62110/IEEE 644 así como con IEC 62233.
- Incluido con sensor de 100 cm2 utilizado con el análisis estándar IEC/EN 62233
- Incluido con software de aplicación para PC
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